智能機內(nèi)測試理論與應用

定　價：￥20.00

作　者：	溫熙森[等]著
出版社：	國防工業(yè)出版社
叢編項：
標　簽：	智能系統(tǒng)

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ISBN：	9787118026511	出版時間：	2002-01-01	包裝：	精裝
開本：	21cm	頁數(shù)：	198	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　機內(nèi)測試是一種能顯著改善裝備或系統(tǒng)測試性與診斷能力的重要技術手段。采用BIT技術研制開發(fā)復雜機電系統(tǒng)和裝備，能大幅度提升裝備系統(tǒng)的整體性能。近年來，國外開始重點研究BIT中的智能理論與方法以進一步提高BIT的綜合效能。智能BIT目前正逐步在多個領域得到驗證，應用前景廣闊。本書在綜述國內(nèi)外BIT技術研究應用發(fā)展的基礎上，系統(tǒng)闡述了智能BIT的理論、技術、方法，重點就BIT的智能設計、智能檢測、智能故障診斷和智能維修決策等四個方面的理論、技術和國內(nèi)外最新應用實例進行了分析和論述。本書是國內(nèi)第一部較為全面、系統(tǒng)地論述智能BIT理論和技術的專著，對提高新型武器裝備和復雜機電系統(tǒng)的測試性、維修性設計水平具有重要的指導作用，適合從事裝備系統(tǒng)設計和可靠性工程研究應用的工程技術人員及相關專業(yè)的大專院校師生閱讀、參考。

作者簡介

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圖書目錄

第一章機內(nèi)測試技術
BIT的由來
BIT的歷史
參考文獻
第二章常規(guī)BIT技術基礎
通用的BIT技術
數(shù)字BIT技術
模擬BIT技術
參考文獻
第三章智能BIT幾個基本問題
智能BIT的發(fā)展動因
智能BIT的概念
智能BIT主要內(nèi)涵和作用
智能BIT的基本實現(xiàn)方式
參考文獻
第四章 BIT的智能設計技術
概述
BIT智能設計的知識表示
測試性知識的獲取
測試方案求解及最優(yōu)診斷樹的生成
BIT計算機輔助設計技術
本章小結
參考文獻
第五章智能BIT中的新型檢測技術——邊界掃描技術
智能BIT中的各種檢測技術基礎
邊界掃描技術基礎
基于邊界掃描的電路板測試性設計技術
基于邊界掃描的智能板級BIT結構與實現(xiàn)
本章小結
參考文獻
第六章基于神經(jīng)網(wǎng)絡的BIT智能故障診斷
BIT智能故障診斷理論與技術
神經(jīng)網(wǎng)絡理論與技術的發(fā)展
神經(jīng)網(wǎng)絡在BIT故障診斷中的應用實例分析
基于ART2的BIT系統(tǒng)無監(jiān)督故障診斷理論與應用
參考文獻
第七章 BIT 決策專家系統(tǒng)
BIT智能決策的理論與技術
專家系統(tǒng)概述
BIT綜合決策與維修專家系統(tǒng)
BIT決策專家系統(tǒng)的發(fā)展展望
參考文獻
第八章智能BIT理論、技術的發(fā)展
參考文獻
縮略語索引