Lattice可編程器件測試技術

定　價：￥30.00

作　者：	吳丹，石堅，周紅著
出版社：	西北工業(yè)大學出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787561242537	出版時間：	2015-01-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：		字數(shù)：

內(nèi)容簡介

《Lattice可編程器件測試技術》從工程實際應用出發(fā)，對Lattice可編程器件自動編程與測試的關鍵技術進行了分析和討論。主要內(nèi)容包括針對可編程單元測試的編程資源測試技術、基于可測性設計的邏輯資源測試技術、針對邏輯電路測試向量生成的功能測試生成算法、保證測試向量和測試程序開發(fā)效率和質量的可編程器件測試技術規(guī)范、研究緒論及結果分析等。
　　《Lattice可編程器件測試技術》可供相關工程技術人員、科研人員參考，也可作為高等學校有關專業(yè)教材或教學參考書。