基于水果電物理特性的無損傷檢測技術(shù)

　　無損傷檢測技術(shù)是一門新興的綜合性應(yīng)用技術(shù)。實現(xiàn)果品無損傷檢測，創(chuàng)建果實內(nèi)在品質(zhì)快速無損檢測方法及途徑，關(guān)鍵在于確立標志果實內(nèi)在品質(zhì)的特征指標（體系）。本書以“富士”蘋果和枸杞為試材，應(yīng)用LCR電子測試儀（日產(chǎn)）、生理生化技術(shù)、灰色系統(tǒng)理論與方法，對上述兩種果實的生理生化特性與電學特性關(guān)聯(lián)機理進行研究，建立標志蘋果和枸杞品質(zhì)特性（電特性和生理特性）動態(tài)變化的數(shù)學模型。研究結(jié)果證明了用電學參數(shù)標志蘋果采后病害和機械損傷響應(yīng)以及進行枸杞產(chǎn)區(qū)識別和品種識別的可行性，為創(chuàng)建果實質(zhì)量的無損傷檢測新技術(shù)和進一步研制開發(fā)果實品質(zhì)的無損檢測儀器提供了一定理論依據(jù)，也為目前困擾枸杞產(chǎn)業(yè)的產(chǎn)區(qū)識別、品種識別提供了有力的電物理理論支撐。

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